Stichwort

Szientometrie


Michael Frayn: Willkommen auf Skios. Roman

Cover
Carl Hanser Verlag, München 2012
ISBN 9783446239760, Gebunden, 288 Seiten, 17.90 EUR
[…] die Ankunft des diesjährigen Gastredners vor. Dr. Norman Wilfred, Autorität auf dem Gebiet der Szientometrie, erweist sich als erstaunlich jung und gutaussehend und ist alles…