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Stichwort Szientometrie


Michael Frayn: Willkommen auf Skios. Roman

Cover: Michael Frayn. Willkommen auf Skios - Roman. Carl Hanser Verlag, München, 2012.
Carl Hanser Verlag, München 2012
ISBN 9783446239760, Gebunden, 288 Seiten, 17,90 EUR
Auf einer Ferieninsel in Griechenland bereiten sich die Gäste einer amerikanischen Stiftung auf die Ankunft des diesjährigen Gastredners vor. Dr. Norman Wilfred, Autorität auf dem Gebiet der Szientometrie,…